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Forscher > PD Dr. Stephan A. Baeurle

PD Dr. Stephan A. Baeurle

// geb. 1971 in Saint Cloud (Frankreich)

// studierte nach einer schulischen Ausbildung am deutsch-französischen Gymnasium des Pariser Vorortes in Buc (Frankreich) Chemie an den Universitäten Stuttgart und Regensburg

// Er promovierte 2000 in theoretischer Physik am Max-Planck-
Institut für Festkörperforschung in Stuttgart, wo er sich mit der Entwicklung neuer atomistischer Feldtheorien zur statistisch-mechanischen Simulation weicher Materie befasste. Aus dieser Phase resultierten mehrere Veröffentlichungen in international angesehenen Fachzeitschriften wie z. B. Physical Review Letters und Journal of Chemical Physics.

// Es folgte ein 2-jähriger Forschungsaufenthalt am Materials Research Laboratory der University of California Santa Barbara (USA) und am Department of Materials der ETH-Zürich (Schweiz). In dieser Zeit forschte er an der Entwicklung neuer Mehrskalen-Modellierungsmethoden zur Untersuchung mechanischer Eigenschaften weicher Polymer-Nanomaterialien.

// Seit 2008 ist er Privatdozent im Fach physikalische Chemie am Institut für Physikalische & Theoretische Chemie der Universität Regensburg. Wesentlich für seine Forschung ist die interdisziplinäre und internationale Zusammenarbeit auf dem Gebiet komplexer biologischer Systeme und Polymer-Halbleiter-Materialien.

Kontakt: laborundmore@succidia.de

Neueste Entwicklungen auf dem Gebiet der In-silico-Erforschung von Signalwegen

Starke Signale - von PD Dr. Stephan A. Baeurle

Herkömmliche Computersimulationsmethoden können aufgrund ihres hohen Rechenaufwandes bisher nur zur Untersuchung des Frühstadiums von Signalwegen biologisch lebenswichtiger Signalproteine eingesetzt werden. Ihr Einsatzspektrum reicht daher typischerweise zur Erfassung von schnellen Prozessen im Bereich von Femtosekunden bis hin zu mehreren Mikrosekunden für Systeme in der Größenordnung von bis zu 100.000 Atomen. Die Entwicklung neuer ratenbasierter...

News

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© Text und Bild: Altmann Analytik

ZEISS stellt neue Stereomikroskope vor

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ZEISS stellt zwei neue kompakte Greenough-Stereomikroskope für Ausbildung, Laborroutine und industrielle Inspektion vor: ZEISS Stemi 305 und ZEISS Stemi 508. Anwender sehen ihre Proben farbig, dreidimensional, kontrastreich sowie frei von Verzerrungen oder Farbsäumen.

© Text und Bild: Carl Zeiss Microscopy GmbH